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IC芯片测试座三个核心组成部分及特点

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KTZ凯智通微电子

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发表于 2023-06-05 14:29:23
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楼主

IC芯片测试座是用于测试集成电路(IC)芯片的专用工具。它由三个核心组成部分构成:

1、插座本体,是一种由金属或是塑料制成的组件,含有精密的切割腔体。

2、插入测试座孔径的探针或是弹簧弹片(即引脚)提供具有机械性的电路径,将芯片连接到测试系统。

3、钻孔、浮动组件,用来固定探针或是弹片的部件,精准的定位,确保芯片和探针能精密接触。

4、根据应用不同,机械压合组件,用来压合芯片,提供匹配的压力供pin针双头和芯片焊盘及PCB焊盘接触。

除了这三个核心组成部分外,还有一些辅助部件,如测试引脚、温度传感器等,用于提高测试的精度和效率。

IC测试座的特点:

 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;
 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
 测试频率可达9.3GHz;


IC芯片测试座三个核心组成部分及特点

IC芯片测试座的应用范围非常广泛,包括通信、计算机、消费电子、汽车电子等领域。


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