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内存怎么检测啊
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| 发表于 2005-11-29 13:50:49 楼主 | |
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怎么能检测内存的工作频率！！！！！！！！！！！！那为高手能指点一下 |
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个性签名：无
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| 发表于 2005-10-21 14:41:02 1楼 | |
| 支持 | |
| 发表于 2005-11-30 15:54:19 2楼 | |
| 存条测试 对内存条测试的要求是千差万别的。DDR内存条的制造商假定已经进行过芯片级半导体故障的测试，因而他们的测试也就集中在功能执行和组装错误方面。通过采用DDR 双列直插内存条和小型双列直插内存条，可以有三种不同内存条测试仪方案： 双循环DDR读取测试。这恐怕是最简单的测试仪方案。大多数的测试仪公司一般仅对他们现有的SDR测试仪作一些很小的改动就将它们作为DDR测试仪推出。SDR测试仪的写方式是将同一数据写在连续排列的二个位上。在读取过程中，SDR测试仪能首先读DDR内存条的奇数位数据。然后，通过将数据锁存平移半个时钟周期，由第二循环读偶数位。这使得测试仪能完全访问DDR内存单元。该方法没有包括真正的突发测试，而且也不是真正的循环周期测试。 采用实时专用集成电路（ASIC）控制器设计DDR测试仪并不难。毕竟，新型ASIC集成块可以很容易达到所需的266MHz频率。然而，考虑到测试仪体积与价格方面的因素，采用场编程门阵列（FPGA）作逻辑核心则更具竞争力。 采用FPGA设计266MHz内存控制器确实是一个挑战，因为它必须使用0.18微米线宽的芯片来实现上述性能。即使我们可以得到0.18微米线宽的芯片，但整个制备方案还没有进行全面的审核。我们必须与FPGA的分销商门合作，以克服所有障碍。 这种测试仪不仅仅是价格便宜，而且具有一定的速度和测试精度。 实际环境测试仪。无论其它测试方法如何，内存条制造商一直在寻找母板仿真器。他们认为最佳测试应当在处于实际工作环境中的母板上进行。然而，制造商们也清楚PC机母板本身也存缺陷如：引导速度慢、测试时间长、插槽寿命短，这些均妨碍了它在内存条测试仪上的应用。 由于技术上的突破，上述问题可以通过专门的软件和硬件设计解决。采用X86处理器和PC芯片组设计的新型DDR测试仪将被引入。它将通过专门的测试操作系统大大降低引导时间，另外采用高速缓冲运算与专用软件算法结合延长双列直插式内存条（DIMM）插槽寿命。这意味着在更换测试器件时不必关电源和重新引导系统。当然，新型测试仪并不等于母板，它是一种性能优化的测试仪。它还将配备重载测试插槽。 | |
| 发表于 2005-12-01 18:55:55 3楼 | |
| 厉害 | |
| 发表于 2005-12-08 11:39:20 4楼 | |
